泰勒霍普森粗糙度輪廓儀

泰勒霍普森粗糙度輪廓儀

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO測量原理測量工件表面粗糙度時，將傳感器放在工件被測表面上，由儀器內部的驅動機構帶動傳感器沿被測表面做等速滑行，傳感器通過內置的銳利觸針感受被測表面的粗糙度，此時工件被測表面的粗糙度引起觸針產生位移，該位移使傳感器電感線圈的電感量發生變化，從而在相敏整流器的輸出端產生與被測表面粗糙度成比例的模擬信號，該信號經過放大及電平轉換之后進入數據采集系統，DSP芯片將采集的數據進行數字濾波和參數計算，測量結果在液晶顯示器上讀出，也可在打印機上輸出，還可以與PC機進行通訊。

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO幅值參數（測量表面偏差的垂直特征）：Ra （算術平均值偏差）Rsk （偏斜度）Rz （平均峰谷高度）Rt （輪廓總高度）Rp （大峰高度）Rz1max （大峰谷高度）間距參數（測量表面偏差的水平特征）：RPc （峰數量）RSm （輪廓元素的平均寬度）混合參數（間距和幅值參數的組合）：Rmr （材料支撐比）Rda - R Delta a（算術平均斜率）上述參數涵蓋了大部分用于檢查潤滑、進給速率、壓力、摩擦和磨損性能的*常用要求。可另外使用Talyprofile 軟件來分析其他參數