菲希爾X射線測厚儀Fischer

菲希爾X射線測厚儀Fischer

菲希爾X射線測厚儀Fischer

FISCHERSCOPE XDL菲希爾X射線測厚儀特點

菲希爾鍍層測厚儀堅固耐用的鍍層厚度測量設備，甚至可在較大的距離測量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作

固定光圈和固定濾光鏡

菲希爾測厚儀用于1mm起大小的測量點

底部C型開槽的大容量測量艙

Fischer X射線測厚儀可編程的臺式設備，用于自動測量

標準X射線管，比例計數器  

德國FISCHERSCOPE XDL菲希爾X射線測厚儀典型應用領域

菲希爾x射線測厚儀測量大規模生產的電鍍零件

防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻

電鍍工業中電鍍液的分析

黃金、珠寶和鐘表工業

德國FISCHERSCOPE XDL菲希爾X射線測厚儀應用實例：

XDLM測量系統經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如或突起，測量這些區域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得zui大的信號強度。

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