菲希爾廠家

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Dualscope mpor渦流法

測量探頭的激勵電流產生高頻主磁場，在基底材料中產生渦流。由此產生的二次磁場削弱了一次磁場。該效應是測量探針和基材之間的距離（涂層厚度），并使用存儲在儀器中的探針特性將其轉換為涂層厚度值。

菲希爾mpor應用

•在有色金屬（如鋁或不銹鋼）上涂清漆或塑料涂層

•鋁上的陽極氧化涂層

Fischer mpor放置支架的V型槽允許對圓柱形零件進行簡單可靠的測量

fischer mpor磁感應法

dualscope mpor測量探頭中的激勵電流產生低頻磁場，該磁場由與待測量涂層厚度對應的磁性基板材料放大。

菲希爾mpor使用存儲在儀器中的探針特性，將記錄該放大的測量線圈信號轉換為涂層厚度值。

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磁性測厚法

適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測量精度高。

渦流測厚法

適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度低。