菲希爾測(cè)厚儀Dualscope MP0R-FP代理

菲希爾測(cè)厚儀Dualscope MP0R-FP代理

菲希爾測(cè)厚儀Dualscope MP0R-FP代理

Dualscope MP0R特性

特別堅(jiān)固的儀器設(shè)計(jì)，可在惡劣條件下進(jìn)行可靠的涂層厚度測(cè)量

FP這款帶探頭連接電纜線，便于測(cè)量難以觸及的地方

操作簡(jiǎn)單，有直觀的導(dǎo)航菜單和2個(gè)顯示屏

3點(diǎn)支撐和電導(dǎo)率補(bǔ)償可得到重復(fù)性好的測(cè)量結(jié)果，即使是奇怪形狀的樣品

連續(xù)測(cè)量模式用于連續(xù)的表面取樣

統(tǒng)計(jì)功能，如平均值和標(biāo)準(zhǔn)差

可存儲(chǔ)多達(dá)1000個(gè)讀數(shù)

Dualscope MP0R這款的附加功能

自動(dòng)旋轉(zhuǎn)顯示，方便查看測(cè)量結(jié)果

可存儲(chǔ)10,000個(gè)讀數(shù)

預(yù)安裝IMO PSPC或SSPC-PA2規(guī)范的涂層厚度測(cè)量模式

USB接口傳輸讀數(shù)和用FISCHER DataCenter軟件評(píng)估

菲希爾x射線測(cè)厚儀XAN

菲希爾涂層測(cè)厚儀和XUL系列一樣，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線XAN儀器非常適合分析簡(jiǎn)單形狀的樣品。然而，XAN系列的一大優(yōu)勢(shì)在于其高質(zhì)量的半導(dǎo)體探測(cè)器。X射線熒光不僅可以測(cè)量鍍層的厚度，還可以分析合金（例如銅）的成分。

菲希爾涂層測(cè)厚儀XAN系列總共包括5款臺(tái)式XRF光譜儀，涵蓋廣泛的應(yīng)用范圍。XAN215具有經(jīng)濟(jì)高效的PIN檢測(cè)器。非常適合簡(jiǎn)單的鍍層厚度任務(wù)，例如鐵上的鋅層或Au/Ni/Cu。對(duì)于更復(fù)雜的合金或貴金屬應(yīng)用，我們建議使用帶有硅漂移檢測(cè)器SDD的設(shè)備（例如XAN220）：由于其分辨率更高，可以可靠地區(qū)分金和鉑。當(dāng)您需要檢測(cè)痕量重金屬和其他有害物質(zhì)時(shí)，XAN250是您的理想選擇。

無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司公司擁有雄厚的資源優(yōu)勢(shì)，擁有儀器設(shè)備“選型、采購(gòu)、測(cè)量、校準(zhǔn)、操作人員培訓(xùn)、售后服務(wù)"的服務(wù)。公司銷售的儀器儀表設(shè)備，廣泛應(yīng)用于工廠、企業(yè)、測(cè)量機(jī)構(gòu)和科研機(jī)構(gòu)。

德國(guó)菲希爾DUALSCOPE MPO涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

德國(guó)MPO 涂層測(cè)厚儀通常不必校正便可進(jìn)行測(cè)量。

量 程：0～2000μm。

精 度：±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%(1000μm～2000μm)。

重復(fù)精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%(＞100μm)。

測(cè)量曲率直徑：在精度范圍內(nèi)，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm；

(在允許誤差＜10%時(shí)，鐵基為φ10mm，非鐵基為φ2mm)。

測(cè)量面積直徑：φ4mm(在允許誤差＜10%時(shí)，為φ2mm)。

基體厚度：鐵基0.2mm（誤差＜10%時(shí)）；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時(shí))。

重 量：60g（不含電池)。

外形尺寸：64mm×30m×85mm。

電 源：兩節(jié)5號(hào)電池。MP0涂層測(cè)厚儀主機(jī)一臺(tái)；鐵、鋁基體各一塊；標(biāo)準(zhǔn)片一片；手提儀器盒；操作手冊(cè)