FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

菲希爾XDV-SDD特點

菲希爾XDV-SDD通用X射線熒光分析儀，用于根據ISO 3497和ASTM B 568標準自動測量超薄鍍層（0.05μm）百萬分之一以下的精細材料分析

菲希爾x射線測厚儀使用Fischer公司超大有效面積的硅漂移探測器（SDD 50 mm2）

6種可切換基本濾片和4種可切換準直器優化測量條件

分析輕元素，例如鋁，硅和磷

樣品高度高達14厘米

高精度，可編程XY工作臺，定位精度為5 µm，用于小型結構的自動測量；

結構堅固，可進行連續測試，具有長期穩定性

經過認證的全面防護裝置

菲希爾x射線測厚儀應用

菲希爾x射線測厚儀測試電子和半導體工業中的極薄涂層，例如厚度小于50nm的金和鈀層；

在汽車制造業中測量硬質材料涂層

在光伏行業中測量鍍層厚度

根據RoHS、WEEE、CPSIA和其他指令（電子，包裝和消費品）對有害物質如鉛和鎘進行痕量分析

黃金，其他貴金屬和合金的分析和真實性測試

直接測定功能性NiP涂層中磷的含量

無錫駿展儀器有限責任公司是國內更專業的菲希爾測厚儀、泰勒霍布森粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等產品的代理商。經過市場的洗禮和多年的努力積累，駿展儀器已發展成為儀器行業的棒企業。我們的產品，不斷精益求精，為客戶提供符合客戶要求的物理表面檢測設備，客戶遍及石油、電力、鋼鐵、軌道交通、電子、半導體、航空、航天、軍工、實驗室、汽車……在科技行業，我們以客戶的需求為出發點。經過多年的努力，公司的員工克服了各種障礙，一路走來，不懈努力。員工、技術和服務都越來越完善。

菲希爾Fischerscope MMS PC2

Fischerscope MMS PC2特性：

堅固耐用且功能豐富的臺式儀器，可用作多功能測量系統，并可保存和處理測量數據

由于采用模塊化結構以及可交換式探頭，可實現靈活應用

將多種物理測量技術融入單個儀器中，因此適用性：振幅與相位敏感電渦流、磁感應、β 射線

完善的分析與統計功能

通過大型內置觸摸屏或使用鍵盤和鼠標進行直觀操作

無錫駿展儀器有限責任公司為客戶提供方守合同、快速售前(演示設備、引進更新技術)銷售(選購、滿足客戶對客戶的要求)、售后服務、設備維修、維修問題等)當客戶需要時，我們專業的工作人員可以到客戶現場，提供急需的服務。