Fischerscope X-RAYXAN250菲希爾測厚儀

 Fischerscope X-RAYXAN250菲希爾測厚儀

Fischerscope X-RAYXAN250菲希爾測厚儀

菲希爾x射線測厚儀優點
菲希爾XAN250德國設計：技術*
菲希爾XAN250一個軟件實現鍍層厚度測量和材料分析兩個功能
擴展統計功能。例如，測量結果可以記錄并轉為SPC圖表顯示
Fischerscope X-ray圖像識別：WinFTM可以自行查找預設的測量位置
Fischerscope X-ray基于基本參數分析的無標準片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實現精確的測量結果
距離控制測量（DCM）：無需移動軸即可保持與不規則形狀樣品的正確測量距離。只需將攝像頭聚焦到樣品表面即可。剩下的由WinFTM軟件完成。這要比移動軸快。此外，沒有軸與樣品碰撞的風險
測量質量：我們的儀器可以判斷您的測量質量。錯誤地選擇了錯誤的測量任務或測量了錯誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會提醒您
任務程式：只需單擊一下，幾乎可以對WinFTM軟件中執行的所有操作進行編程并執行。例如，一項任務可以自動測量多個合金樣品。 X射線儀器將XY工作臺移動到樣品位置，加載每個合金特定的測量條件，最后根據您的需要生成測試報告

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的*基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

菲希爾x射線測厚儀產品特點：
高性能機型，具有強大的綜合測量能力
配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析
由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位 

菲希爾測厚儀應用領域：
對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析
用于高校研究和工業研發領域