x熒光射線fischerscope x-ray xdlm 232

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菲希爾XDLM系列 X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計，是用于質(zhì)量控制，質(zhì)量檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控的最合適的測量儀器。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預期用途，有不同的版本。
XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

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儀器簡介：

適用于Windows2000或選擇適用于Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能

頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應用

能通過“應用工具箱"(由一個帶所有應用參數(shù)的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化

畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離）

圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中

對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達80mm(3.2〞)

測量模式用于：單、雙及三層鍍層系統(tǒng)

x-ray xdlm 232

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