菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237硬件配置

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

•  分析小于 的超薄鍍層

•  測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

•  測定復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)

•  全自動(dòng)測量，如在質(zhì)量控制領(lǐng)域

•  分析焊錫中鉛含量

•  配備可選的 SDD 探測器：可測量鎳磷中的磷含量

設(shè)計(jì)用途：能量色散X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。

形式設(shè)計(jì)：臺(tái)式儀器，測量門向上開啟可編程的工作臺(tái)和電調(diào)的軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的可更換的準(zhǔn)直器和基本濾片

視頻攝像頭和激光點(diǎn)（類）定位測量點(diǎn)。

測量方向：從上到下。