菲希爾XDL230 X射線測厚儀、金層測厚儀信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL 230 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。典型的應用領域有：

• 測量大規模生產的電鍍部件

• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

• 測量印刷線路板

• 分析電鍍溶液

XDL230 有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。

由于采用了 FISCHER 基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。