菲希爾X射線測厚儀XDL230信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230采用了基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。其測量范圍為元素氯(17)到鈾(92)。適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾X射線測厚儀典型的應用領(lǐng)域有：

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

測量超薄杜策，例如：裝飾鉻

測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

全自動測量，如測量印刷線路板

分析電鍍?nèi)芤?/p>

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預期用途，有不同的版本。

XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺，固定位置的 Z 軸系統(tǒng)。

XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅(qū)動的 Z 軸系統(tǒng)。

XDL 230 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDL 240 型則配備了馬達驅(qū)動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。