菲希爾測厚儀Dualscope FMP40測量原理

菲希爾測厚儀Dualscope FMP40測量原理

DUALSCOPE FMP40測厚儀采用了磁感應和電渦流兩種辦法。磁感應辦法:

經過探頭的鼓勵電

生一個低頻磁場區域,該磁場的強度取決于涂鍍層厚度并經磁性基材放大。丈量線圈捕獲這個放大信號,然后經過貯存在儀器內的探頭特征曲線將信號轉換為涂鍍層厚度。

應用:鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。

電渦流辦法:

經過探頭的鼓勵電

生一個高頻初級磁場區域,該磁場在基材內產生感生電渦流,次級磁場區域削弱初級磁場區域,削弱影響相當于探頭和基材之間的間隔即涂鍍層的厚度,然后經過貯存在儀器內的探頭特征曲線將削弱影響轉換為涂鍍層厚度值顯現出來。